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最終更新日:2025/4/15
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半導体検査装置(計測器、信号発生器、電源、インタフェース等)の回路設計および基板設計を行います。また、FPGAを使った論理回路の設計や、半導体検査装置を制御するためのテストプログラムの作成も行います。
お客様の技術的パートナーとして、テラダインのテスタを用いてデバイスを測定するためのプログラム開発やトレーニングの提供・インターフェース基板の開発サポートなど、包括的なサポートを提供しています。
半導体検査のシステム及びオプションの受入検査から出荷検査を行います。 検査中の製品の不良解析、デバッグ等行い設計へのフィードバックを行います。